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高压开关试验项目

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高压开关介质损耗因数的测量

导读:真空断路器、SF6断路器与少油断路器不作此项试验,因其绝缘结构主要是电瓷与环氧玻璃布等之类绝缘,其本体电容很小(仅十至几十皮法),所测得的tgδ分散性很大,不能有效地发现绝缘缺陷。对于多油式断路器,tgδ测量是重要的测试项目。 ...
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真空断路器、SF6断路器与少油断路器不作此项试验,因其绝缘结构主要是电瓷与环氧玻璃布等之类绝缘,其本体电容很小(仅十至几十皮法),所测得的tgδ分散性很大,不能有效地发现绝缘缺陷。对于多油式断路器,tgδ测量是重要的测试项目。

多油断路器的基本部件有套管、灭弧室、提升杆与导向筒、绝缘油与油箱,绝缘围屏五大部分。测试证明,任一部分绝缘情况的劣化都使整体tgδ发生明显变化。

该试验要在合闸与分闸两种状态下进行。在分闸状态下试验时,要对每个套管分别测量,如果tgδ超过标准,或与历年数据比较有显著增大者,应进行下列分解试验,以找到缺陷部位。

落下油箱或放油(当油箱无法落下者),使灭弧室露出油面后进行复测,如tgδ明显下降3%,(对DW1—35型为5%)者,则说明tgδ时增大的原因是绝缘油与油箱绝缘围屏绝缘不良。

如落下油箱或放油后,tgδ无明显变化,则应擦净油箱内套管表面再试,如仍无明显变化,则依次卸去弧室屏蔽罩和灭弧室进行试验。如此时tgδ降到2.5%左右,则表明是灭弧室受潮,否则可能是套管绝缘不良,可按套管标准判断(GB50150--1991表15. 03的规定)。将灭弧室外加屏蔽罩,将其接于电桥的屏蔽回路,即消除了灭弧室的影响。表9—3为典型实例。

高压开关介损

Q/CSG10007—2004规定:35kV充胶型套管大修后,20℃时tgδ不大于3%(运行中不大于3.5%)。

测量多油断路器的tgδ时,也应注意测得的CX值,要对同一电压等级、同一类型的套管,或同一套管历次测试数据进行比较,t如CX (即R3)差别很大,则套管可能存在缺陷。CX增大即R3变小时,对于充胶套管,可能缺胶;对于充油套管,可能严重缺油;对于电容型套管,可能是电容短路。反之,则可能内部干枯,老化或填充物流失。

在实际工作中,影响测量结果的因素很多,对来自外界的影响,必须采取措施加以消除;对于测量用的仪器、仪表应定期校验,使用方法要正确,从而使测量结果能反映绝缘的真实情况,这样才能根据测量结果作出正确的判断。

测量单套管时一般用正接法,这样受干扰小,测量结果较为准确,操作安全方便。使用反接法时,应尽量排除干扰,例如采用抗干扰电桥。

温度对测量结果的影响也十分明显。温度升高,极化损失与电导损失增加,因而tgδ值也会变大,具体相关因素还未完全定论。有关文献推荐了不同温度下tgδ的校正公式    tgδ(20℃)=tgδ·K(20-t)/10式中K一不同结构材料的系数,电容套管K=1. 2~1.25;温度超过20℃时,所铡值变化归算到20℃下的tgδ时, K值越小越安全,低于20℃下测量时,情况正好相反。

空气湿度和表面污秽对测量的影响也很大。表面污秽应该擦洗干净,应尽量避免在空气温度大的环境下进行测量。

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